点击图片查看原图
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪的特点：
1、消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
2、可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于小区域（φ60μm），可测定镜片曲面以及镀膜层斑点。
3、测定时间短
使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
4、XY色度图、L*a*b测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
5、可测定的Hard Coat（高强度镀膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪主要用途：
1、各种透镜（眼镜透镜、光读取透镜等）
2、反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
| 规格 | |
| 测定波长 | 380 nm～780 nm |
| 测定方法 | 与参照样本的比较测定 |
| 被检物N.A. |
0.12（使用10×物镜时） 0.24（使用20×物镜时） * 与物镜的N.A.不同 |
| 被检物W.D. |
10.1 mm（使用10×物镜时） 3.1 mm（使用20×物镜时） |
| 被检物的曲率半径 | -1R ～-∞、+1R～∞ |
| 被检物的测定范围 |
约ø60 μm（使用10×物镜时） 约ø30 μm（使用20×物镜时） |
| 测定再现性（2σ） |
±0.1%（380 nm～410 nm测定时） ±0.01%（410 nm～700 nm测定时） |
| 显示分辨率 | 1 nm |
| 测定时间 | 数秒～十几秒（因取样时间而异） |
| 光源规格 | 卤素灯 12 V 100 W |
| 载物台Z方向驱动范围 | 85mm |
| PC接口 | USB方式 |
| 装置重量 |
机身：约20 kg（PC、打印机除外） 光源用电源：约3 kg 控制器盒：约8 kg |
| 装置尺寸 |
机身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用电源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm |
| 电源规格 |
光源用电源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC |
| 使用环境 |
水平且无振动的地方 温度： 23±5 °C 湿度： 60%以下、无结露 |
本装置不保证溯源体系中的精度。
可以特别订做测定波长440 nm～840 nm规格。
更多详情请咨询：https://www.chem17.com/st3598/erlist_1390102.html
https://www.chem17.com/st3598/product_25682865.html
https://www.chem17.com/st3598/product_25682865.html