辰纳川 A3-SR-100反射式膜厚测量仪

　　A3-SR-100反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR-100可用于测量10纳米到100微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。在折射率未知的情况下，A3-SR-100还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外，A3-SR-100还可用于精确测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。
A3-SR-100反射式膜厚测量仪进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。配合我们的Apris SpectraSys软件进行手动测量，每次测量时间低于1秒。Apris SpectraSys支持20层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys软件还拥有近千种材料的材料数据库，同时支持函数型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光学（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett,Bruggeman）EMA等折射率模型。同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。
配手持式探头,A3-SR-100可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um,只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳j氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um。
A3-SR-100系统参数：
1.产品尺寸：W270*D217*（H90+H140）mm
2.测试方式：可见VIS反射(R)
3.波长范围:380nm-1050 nm
4.光源:进口钨卤素灯寿命10000小时
5.光路和传感器:光纤式(FILBER,进口)+进口光谱仪
6.入射角:0度(垂直入射)(0 DEGREE)
7.参考光样品:硅片
8.光斑大小：about 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）
9.样品大小：10 mm TO 300 mm(可以根据用户要求配置)
10.测试方式：反射
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