纳米扫描探针显微镜的工作模式

　　纳米扫描探针显微镜可以在不破坏样品内部结构的情况下观测样品微区三维形貌和多相结构（纳米级别）；同时可对样品表面物理化学特性进行研究，数值测定与分析。
纳米扫描探针显微镜工作模式：
1.标准工作模式：
1.1轻敲模式(Vibrationmode)
1.2接触模式(Contactmode)
1.3相位成像模式(Phaseimaging)
1.4横向力模式(LateralforceMicroscopyLFM)
1.5力曲线测试（Forcecurve）可测杨氏模量
1.6纳米操控（Nanomanipulation）
1.7纳米刻蚀（Nanolithography）
1.8力矩阵模式（ForceMapping）
1.9摩擦力测试（FrictionMode）
2.可选工作模式：
2.1磁力显微镜模式（MFMmode）
2.2静电力显微镜模式（EFMmode）
2.3导电显微镜模式（C-AFMmode）
2.4液相模式（Liquidscanmode）
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