光学膜厚测量仪

-Filmetrics膜厚测量仪—F20
测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统
-Filmetrics光学膜厚测量仪：不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：
测量厚度、折射率、反射率和穿透率：
-单层膜或多层膜叠加
-单一膜层
-液态膜或空气层
不同条件下的测量，包括：
-在平面或弯曲表面
-光斑z小可达20微米
-桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置
所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网支持（24小时/每周5工作日）。这就是Filmetrics的优势！欢迎您试一试！
膜层范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
这包括几乎所有的电介质与半导体材料。
选择Filmetrics的优势
24小时电话，E-mail和在线支持
所有系统皆使用直观的标准分析软件
附加特性
嵌入式在线诊断方式
免费离线分析软件
精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果。
光学膜厚测量仪
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https://www.chem17.com/st324987/erlist_1913769.html