样芯元素扫描分析

样芯元素扫描分析
XRF Scanner样芯元素扫描分析系统是由瑞典ITRAX公司在原有CoreScanner的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为SC单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和MC多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。
原理
XRF Scanner样芯元素扫描分析系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。
主要技术特点
与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的XRF数据质量，以及更高的样品通量
可对样芯一次性扫描分析从Na到U的所有元素及REE（稀土元素）浓度及分布
测量不使用氦气，降低运行成本
结实耐用，轻松完成24小时/7天无人值守操作
Itrax扫描仪是惟一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供数据
Itrax XRF是惟一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪
非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据
对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有*的高通量优势
Polyflat™X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度
可分析元素相位分布及相关关系
具RGB高分辨率彩色镜头及LED光源、样品条码扫描器
软件包功能非常强大
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