粒度及zeta电位分析仪简介:
Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯(Gaussian)单峰算法和拥有*技术的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。
粒度及zeta电位分析仪技术优势
1、高灵敏度PMT检测器;
2、可搭配不同功率光源;
3、准确度高,接近样品真实值;
4、可测试水相及有机相样品的粒度及Zeta电位;
5、快速检测,可以追溯历史数据;
6、结果数据以多种形式和格式呈现;
7、符合USP,CP等个多药典要求;
8、无需校准;
9、复合型算法:
(1)高斯(Gaussion)正态粒度分布与*的Nicomp多峰分布算法自由切换
(2)频率(Frequency)Zeta电位分析法与*的相位(Phase)分析法自由切换
10、模块化设计便于维护和升级;
(1)可自动稀释模块(选配);
(2)自动进样系统(选配);
(3)搭配多角度检测器(选配);
Nicomp多峰分布概念
基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所*的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。
Nicomp多峰分布优势
Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的准确情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。
粒度及zeta电位分析仪
http://www.labeach.cn/SonList-2245201.html
https://www.chem17.com/st478632/erlist_2245201.html