偏置电场下热释电测试

　　PCTS-3000E中低温偏置电场下热释电测试系统采用直接测量法，在热释电材料两端施加直流偏场的条件下，测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到场致热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。
热释电系数测试主要性能指标：
a. 测量范围：0.1 pA ～ 1 μA
b.测量精度：10 fA
c. 样品类型：单晶、块体、膜
d. z大样品厚度：10 mm
e. z大样品尺寸：Φ30 mm
f. 样品形状：不限
g. 直流偏场：0～5000 V可调
h. 高压击穿保护：有
i. 温度范围：-160℃ ～ 260 ℃
j. 控温精度：±0.1 ℃
k. 升降温速率：1～10 ℃/min
l. 具有控温故障诊断监控、超温自动断电保护功能
本测试系统由主控器、高压电源、高低温测试箱（配热释电测试夹具）、计算机及系统软件部分组成。主控器实现高压信号发生器、收集热释电电流、与PC通讯等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，按要求安装样片后，一键启动热释电系数测量，测量过程曲线和测试结果自动保存。
偏置电场下热释电测试
http://www.whyanhe.cn/Products-37483696.html
https://www.chem17.com/st560378/product_37483696.html