薄膜反射仪

　　SR系列薄膜反射仪是一款相对较低成本和操作简单的工具。
SR系列薄膜反射仪特征：
简单易操作
*系统性能基于先进的光学设计
基于阵列的探测器系统保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率可达5层
允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱
可用于实时或在线厚度，折射率的监测
系统具有全面的光学常数数据库
先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。
可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的·直接测量图案或功能结构
适用于多种不同厚度的基材
各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面
2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口
薄膜反射仪
http://www.first-nano.com/Products-24803595.html
https://www.chem17.com/st326752/product_24803595.html