藤野 AND BM-20

　　AND 高精度分析天平 BM-300 / AND BM-20特长：
实现高精度计量
自动环境设定＜特许取得済＞
利用内置砝码自动判断使用环境，更新响应特性的设定值。也可以手动设置。
时钟、环境传感器显示
天平内置有时钟和环境传感器（温度、湿度、气压）。测量时，除了计量值之外，还可以获取时钟和温度。
重复性确认功能
使用内置砝码获取10次测量数据，并显示其标准偏差。通过安装天平并使用此功能，可以确认安装环境中的重复性。
密码功能有效时，仅在管理员登录时可用。
校准（灵敏度调整） （※1）
自动校准：根据使用环境的温度变化自动使用内置砝码调整天平。
内置砝码校准：使用内置砝码一键调整天平。（※2）
也可以使用手动校准的砝码进行调整。
AND 高精度分析天平 BM-300 / AND BM-20校准测试（灵敏度校准） （※1）
内置砝码校准测试。使用内置砝码确认计量的正确性，并输出结果。
不进行调整（也可以使用手动校准的砝码进行调整）。
内置砝码值的修正
天平可以在以下修正基准值的修正范围内修正内置砝码的值。请配合手头的砝码使用。即使拔下交流适配器，也会记住设置值。
（※1）可输出支持GLP/GMP等的维护记录。
（※2）内部校准比通常需要更长时间时，由于表示测量环境存在某些问题，建议暂时停止使用。
更多详情请咨询：https://www.chem17.com/st599769/product_38163019.html
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