表面检查灯

Analytik Jena B-100YP表面检查灯检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物、灰尘等

Analytik Jena B-100YP表面瑕疵检查灯可快速检查加工表面的瑕疵，灰尘，异物等小至10微米的瑕疵、小颗粒，高强度抗冲击外壳由有Cool-Touch阻热材料制造，可长时间工作不产生高温。

表面晶粒检查灯应用：LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查

主要特点

检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等

快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒

有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本

100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱

黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线，防止产生荧光干扰

高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子

B-100Y是铝合金外壳; B-100YP带塑料外壳

灯头人体工学设计，易于操作

Analytik Jena B-100Y和B-100YP

黄色滤光片能滤掉波长小于500nm的光线，产生543nm、574和576nm的光线。高对比度的光线可检测表面小于10微米的颗粒。b-100Y铝合金外壳，B-100YP带塑料外壳。

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