蔡司Crossbeam聚焦离子束

蔡司Crossbeam系列-蔡司聚焦离子束扫描电镜将场发射扫描电镜（FE-SEM）镜筒的强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束（FIB）的高效处理加工能力相结合。无论是加工切割、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用速率效率。通过加装飞秒激光（FemtosecondLaser）模块，Crossbeam的加工效率可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。  
详细介绍  
蔡司Crossbeam系列-蔡司聚焦离子束扫描电镜将场发射扫描电镜（FE-SEM）镜筒的强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束（FIB）的高效处理加工能力相结合。无论是加工切割、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用速率效率。通过加装飞秒激光（FemtosecondLaser）模块，Crossbeam的加工效率可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。  
[产品特点]  
1.低能着陆电压下获得高分辨率图像  
2.可实现大尺寸到纳米精度的切割  
3.批量自动制备TEM薄片样品  
4.Atlas5可创建多尺度、多模式综合图像  
5.ToF-SIMS实现高通量3D成份分析  
6.特别设计的无漏磁镜筒  
7.不导电样品不受荷电效应影响  
8.加装飞秒激光模块，实现亚毫米级快速加工，同时有效避免腔室污染  
[应用领域]  
1.生命科学，如断层扫描，三维重构  
2.电池领域，如原子层组分表征  
3.半导体领域，如失效分析，电路修复  
4.金属领域，如界面分析，亚表面分析  
5.材料科学，如晶体微观结构分析，纳米图形化加工  
6.透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
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