纳米粒度及Zeta电位分析仪

技术特点：

1、全光纤光路：利用全光纤光路替代分立光路，使参考光和散射光信号不再受灰尘和杂散光的干扰，显著提高了信噪比和抗干扰能力。

2、背散射光路：使用背散射光路减小散射光程，减弱多次散射光，进而可以测量高浓度样品的颗粒粒度。

3、大动态范围高速数字相关器：采用高速、低速通道搭配的光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数。

4、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确性。

5、多角度数据反演：从多个不同的散射角度采集散射光强，可以获得更多的颗粒粒度信息，并将多个自相关函数结合到一个数据分析中，提高颗粒粒度分布的准确性。

6、温度趋势分析：按照设定的温度范围，自动进行粒度和Zeta电位测量，检测样品粒度或电位的温度趋势。

7、毛细管样品池：使用改进型平底U形毛细管样品池测量Zeta电位，由于样品池底部是水平的，从而使得电场强度比传统的毛细管样品池更加均匀，减少测量误差，进而提高Zeta电位的测量精度与重复性。

8、增强型相位分析光散射技术(PALS)：通过测量光拍信号的相位变化来获得颗粒的Zeta电位，测量分辨率比电泳光散射法高两个数量级。

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