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材料腐蚀的电化学测试方法局限于整个样品的宏观测试, 测试结果只反映样品的不同局部位置的整体统计结果,不能反映出局部的腐蚀及材料与环境的作用机理.为进行局部表面科学研究,微区扫描系统提供了一个新的途径,并日益得到包括局部腐蚀领域的广泛应用。近年来，人们一直在探索局部电化学过程的研究。*代扫描参比电j技术（SRET）能探测局部腐蚀的发生。第二代扫描振动电j技术（SVET）采用振动电j测量局部 （电流，电位〕随远离被测电j表面位置的变化。 SVET具有比SRET更高的灵敏度。在SVET和SVET基础上，又提出了采用扫描Kelvin振动电j（SKP）测量不同材料表面功函数。
SVET工作原理
扫描振动参比电j系统是利用振动电j和锁相放大器消除微区扫描中的噪声干扰,提高测量精度. SVET系统具有高灵敏度,非破坏性,可进行电化学活性测量的特点.它可进行线性或面扫描,研究局部腐蚀（如电蚀和应力腐蚀的产生,发展等）,表面涂层及缓蚀剂的评价等方面的研究,扫描振动探针（SVET）是在液态腐蚀环境下,进行腐蚀研究的有力工具,它能检测小于5uA/cm2的原位腐蚀。
SKP工作原理
SKP扫描开尔文探针系统为表面科学测量提供了一个新的途径，开尔文探针是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电的、半导电的，或涂覆的材料与试样探针之间的功函差。 这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压可以测量出样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。 功函和表面状况有直接关系的理论的完善使SKP成为一种很有价值的仪器，它能在潮湿甚至气态环境中进行测量的能力使原先不可能的研究变为现实。
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