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SNAP DM 350 大行程大视场影像测量仪
针对大零件的大视场影像测量SNAP 350提供了高达100 mm视场及超大的XY行程，用严苛的标准自动地测量大型零件或多个小型零件的几何
2021-06-02 13:41
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VIEW Precis 200
全新的Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测***而来，采用了VMM 公司z先进的设计和技术。, 新款Precis 包含了很多可配
2021-06-02 13:33
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VIEW Pinnacle 250影像测量仪
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率，优异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中z低的购置成本。其独特的可编
2021-06-02 11:30
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VIEW MicroLine 1000自动化关键尺寸测量系统
■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm
2021-06-02 10:53
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VIEW MicroLine 300桌上型半自动CD测量系统
主要技术参数：◆测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25◆视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴聚焦范围
2021-06-02 10:01
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VIEW Benchmark300 影像测量仪
XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置
2021-06-02 09:57
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Summit 450/600/800影像仪
Summit450/600/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um
2021-06-02 09:54
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VIEW BenchMark 250
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米 需高分辨率光栅尺)Z精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(
2021-06-01 16:00
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米 Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公
2021-06-01 15:58
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Pinnacle+Plus影像测量仪
特征：X,Y,Z 行程 (毫米)：250 x 150 x 50X,Y,Z光栅尺分辨率：XY - 0.05μm,零膨胀材料，Z - 0.01μm,零膨胀材料平台驱动系统：
2021-06-01 15:56
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VIEW Benchmark 624影像测量仪
VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持
2021-06-01 15:54
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VIEW Benchmark XLT影像测量仪
先进的图像处理功能，确保高速，高精度和高稳健性能强大的计量软件和数据分析工具可供选择高精度光学系统.X,Y,Z行程(mm)900 x 15
2021-06-01 15:51
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